基于控制环境辐射发射率测量方法的超黑涂层发射率特性研究
在辐射测温领域，获得黑体腔的发射率就能够准确测量其亮度温度。在设计黑体腔时，通常使用蒙特卡洛方法模拟计算黑体腔的发射率，在蒙特卡洛方法中黑体涂层的发射率是一个关键参数。因此准确测量黑体涂层的发射率对黑体腔的设计具有重要意义。介绍了一种基于控制环境辐射的发射率测量方法.该方法利用两块处于不同温度的辐射板交替放置在待测样品前部,以此来改变环境辐射,通过测量样品辐射能量的变化,计算其反射率进而得出发射率.详细论述了该测量方法的基本原理,实验装置,典型超黑涂层的发射率测量结果,以及测量结果的不确定度.通过扫描电子显微镜等途径研究了超黑涂层的发射率差异与其表而微结构的关系.实验中使用的三种超黑涂层为:NEXTEL811-21PYROMARK1200和JSC-3.涂层发射率测量结果分别为:0.964,0.901,0.980.测量结果的标准合成不确定度分别为:0.21％,0.28％和0.22％.
超黑涂层 发射率 测量精度 环境辐射 控制策略
宋健 郝小鹏 原遵东 许敏 龚律宇 文平 徐春媛
中国计量科学研究院热工计量科学研究所,北京100013 中国计量科学研究院热工计量科学研究所,北京100013;成都理工大学,四川成都610059 中国计量科学研究院热工计量科学研究所,北京100013;西安工程大学,陕西西安710048
国内会议
杭州
中文
98-104
2015-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）