1000℃以上光谱发射率测量方法研究进展
为了精确测量材料的表面温度，必须首先精准测量材料的发射率，这即是辐射测温领域的研究热点与难点。本文按照研究机构来源综述了近年来国外在高温光谱发射率测量方法的研究进展.从温度范围、加热方式、温度测量方法以及测量不确定度等几方面总结已有方法的特点,并展望了高温光谱发射率测量技术的发展趋势，即分立黑体方案结合高精度的免发射率表面温度测量和积分黑体方案。后者由于回避了样品表面温度测量，同时具有更广泛的材料适用性，在不确定度方面更具优势。
材料发射率 高温环境 测量方法 不确定度
潘奕捷 董伟 林鸿
中国计量科学研究院,北京100029
国内会议
杭州
中文
105-113
2015-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）