一种节省软、硬件的老化数据回检系统设计

摘要：

以集成老化仪的模拟部分设计为背景,采用ARM作为系统的主控制器,FPGA作为模拟部分的协处理器,AD7367作为模数转换器,设计了集成老化仪模拟部分的数据回检系统.相比于传统的数据存储及异步数据传输方法,在不使用FIFO或RAM等存储器及不对待传输数据添加冗余信息的基础上,提出了一种大量节省软、硬件开销的数据回传方案.系统软件设计主要是对FPGA的Verilog编程，包括识别ARM发来的控制信息、对AD7367的工作进行控制、处理AD的串行输出数据以及将数据通过SPI回传给ARM。其中，重点是协调ARM与FPGA的异步通信以实现数据不重复、无遗漏的传输。最后通过Signal Tap仿真,并给出仿真结果.结果表明此设计在节省软硬件的基础上可准确无误的恢复出老化信号.

关键词： 集成电路 老化测试 数据回检系统 硬件开发 软件设计

作者: 张福洪 刘莎莎 易志强

作者单位: 杭州电子科技大学通信工程学院,浙江 杭州 310018

会议类型: 国内会议

会议名称: 杭州电子科技大学第八届研究生IT创新学术论坛

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 26-30

在线出版日期: 2015-11-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）