热应力对Si基碲镉红外探测器响应光谱的影响
利用晶体结构能带理论分析、获得了不同热应力状态下闪锌矿结构碲镉汞材料禁带宽度的变化规律,同时通过实验测试得到了不同热应力状态下Si基碲镉汞材料的禁带宽度和器件响应光谱,结合有限元分析软件并利用应力能带理论对实验结果进行了合理分析,发现:相对于零压力碲镉汞材料而言,碲镉汞材料受到张应力时,材料的禁带宽度变小;受到压应力时,材料的禁带宽度增大;通过改变材料禁带宽度对响应光谱有一定调制作用.这些结果可为器件结构合理设计、改善碲镉汞焦平面响应均匀性提供参考.
红外探测器件 硅基碲镉汞 热应力 响应光谱 禁带宽度
张姗 胡晓宁
中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083
国内会议
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2015-10-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）