覆盖纯氧化锌的掺铝氧化锌的退火研究
本文通过在AZO薄膜上沉积一层厚度为55nm的无掺杂氧化锌(ZnO)层来提高AZO薄膜在高温退火过程中的稳定性。通过磁控溅射方法制备ZnO、AZO、AZO/ZnO多晶薄膜,并研究了CdCl2退火前后的AZO、AZO/ZnO多晶薄膜的电学、光学性质。为了还原在AZO/ZnO在CdTe电池制备过程经受的环境,还研究了覆盖了CdS和CdTe薄膜,并完成电池全部工艺过程的AZO/ZnO薄膜的电学、光学性质。
半导体材料 掺铝氧化锌 纯氧化锌 高温退火 稳定性
杜忠明 李辉 刘向鑫 帅佳丽
中国科学院电工研究所太阳能热利用及光伏系统重点实验室,北京100190
国内会议
北京
中文
34-36
2015-10-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)