组件PID性能研究
本文研究发现,通过使用天合自主研发的抗PID电池搭配厂家A生产的抗PIDEVA做成的组件,在85%RH、85℃、加载-1000V的情况下测试672h,组件功率衰减小于5%.并进一步发现,在分别经历120kwh.m2的暴晒、60kwh.m2的UV测试、DH1000后,组件的抗PID性能仍然未明显下降.同时,发现抗PID性能良好的组件在PID测试过程中,其功率衰减主要为高温高湿(DH湿热测试)所导致,真正由电势诱导衰减相对较小。
太阳电池组件 抗PID性能 功率衰减 高温胁迫 高湿胁迫
王子港 崔艳峰 陈奕峰 冯志强 Pierre Verlinden
光伏科学与技术国家重点实验室,常州天合光能有限公司 常州 213031 光伏科学与技术国家重点实验室,常州天合光能有限公司 常州 213031;江苏省光伏科学与工程协同创新中心,常州大学,江苏常州 213164
国内会议
北京
中文
44-46
2015-10-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)