VTE对MgO(5mol/%):LN晶体中Mg浓度的影响

摘要：

气相输运平衡(VTE)是改变铌酸锂晶体组分的一种实用有效的方法.二次离子质谱(SIMS)研究表明,在VTE初期,MgO扩散至晶片表面,导致表面浓度随深度的分布不均匀,并与VTE时间有关.中子活化分析(NAA)结果显示,Mg离子几乎没有从晶体中蒸发出去.随着VTE时间的延长,Li浓度趋向平衡,表面部分Mg离子扩散回样品并趋向平衡,导致表面Mg浓度的下降,使得Mg浓度分布更均匀;VTE140h后的样品,在至少10μm的空间范围内,浓度在深度方向是分布均匀的,讨论了Mg离子的占位.

关键词： 铌酸锂晶体 镁离子浓度 气相输运平衡 二次离子质谱 中子活化分析

作者: 张丽珠 华平壤

作者单位: 天津职业技术师范大学理学院,天津300220 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津300220

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国高等学校第十届物理演示实验教学研讨会

会议地点: 天津

会议语种:中文

页码: 233-236

在线出版日期: 2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）