TATB纳米晶体的结构表征
采用扫描电子显微镜(SEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和X射线粉末衍射(XRD)对TATB纳米晶体材料进行了结构表征.SEM观察TATB为平均粒径约30μm的颗粒状物质,但是在HRTEM下观察发现TATB颗粒是以纳米晶粒为基础组成的微米级颗粒,单个纳米晶粒的直径约45nm.TATB纳米晶粒在组成微米级大颗粒的过程中,形成了大量的内部缺陷,为堆积性孔洞缺陷.XRD图谱证明TATB是三斜晶系,晶粒平均粒径为46.8nm,和高分辨透射电子显微镜得到的结果一致.
纳米晶体材料 三氨基三硝基苯 孔洞缺陷
李志杰 唐永亮 祖小涛
电子科技大学物理电子学院,四川成都610054
国内会议
成都
中文
246-249
2013-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）