基于LabView光强补偿控制系统的设计

摘要：

在工业的控制系统中,光照强度的变化会成为影响光敏元器件工作特性的主要因素.本文是基于Labview软件平台设计一种光强度的测量系统,利用光敏二极管电路进行光照强度的测量和LM35D温度传感器进行温度的测量,将测量数据通过USB2009数据采集卡接口实现与上位机之间的数据传输.针对温度测试系统以及光照强度根据温度变化的关系,实现了温度与光照强度的相吻合的对应关系,进而完成光照强度的测量以及补偿.仿真结果表明系统可以根据外界条件的变化,通过温度调整和补偿,使光照强度维持在一个相对稳定的范围.

关键词： 工业控制系统 光照强度 补偿控制系统 温度传感器 光敏二极管电路

作者: 杨洋 李钟慎 范伟

作者单位: 华侨大学机电及自动化学院, 福建厦门361021

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013中国自动化学会华东六省一市年会(CETCU 2013)

会议地点: 威海

会议语种:中文

页码: 10-13

在线出版日期: 2013-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）