一种基于交替游程编码的无关位填充算法

摘要：

随着集成电路中IP核复用技术的进一步发展,单芯片集成度和复杂度急剧上升,测试数据也随之变得越来越庞大,测试压缩是解决该问题的有效方法.本文提出了一种新的基于交替游程编码的无关位填充算法,采用连续无关位左邻与右邻分割填充相结合的方法,寻求编码压缩的最优化.实验表明,它有效地提高了压缩效率并降低了测试时间,且由于该算法基于交替游程编码,其片上解码逻辑十分简单.

关键词： 集成电路 测试方法 知识产权核 无关位填充 交替游程编码

作者: 孙海明 刘蓬侠 吴铁彬 刘衡竹

作者单位: 国防科技大学计算机学院 长沙410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 278-282

在线出版日期: 2013-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）