基于UVM验证方法学的MCU验证

摘要：

本文介绍了使用UVM验证方法学对MCU进行验证的全过程,从制定验证计划到验证平台的实现,并阐述了实现过程中的技术要点,覆盖率统计以及最后的回归收敛.验证结果表明,MCU各种配置下功能正确,基于UVM验证方法学可以快速搭建灵活的高度可重用的验证平台,提高了验证效率,较好地满足了芯片验证需求.

关键词： SOC芯片 存储控制单元 UVM方法学 功能覆盖率

作者: 孟宾 欧国东 李英淇 鲍俊明

作者单位: 国防科技大学计算机学院 长沙410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 286-290

在线出版日期: 2013-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）