面向硅后验证的平台设计与测试激励生成技术
随着微处理器设计规模和复杂度的增加,传统的硅前验证难以发现所有的错误,需要在硅后验证阶段发现和定位问题.针对硅后验证中测试激励生成复杂、速度慢、冗余度高等问题,本文在”银河飞腾”DSP开发板的基础上,提出了”主-从”双芯片验证结构,采用随机生成测试激励的方法,对”银河飞腾”高性能DSP芯片指令集进行了全面的硅后功能验证,结果表明,本文采用的方法灵活度高,冗余度低,可以有效提高硅后验证效率.
微处理器 硅后验证 测试激励 随机生成
刘畅 郭阳
国防科技大学计算机学院 长沙410073
国内会议
西宁
中文
325-329
2013-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）