一种片上存储器的可调试设计方法

摘要：

芯片调试需要尽可能获取芯片内部状态信息,但存储器的内容不容易直接读出.本文提出了一种基于存储器内建自测试的存储器的调试访问方法,并设计存储器调试控制器MT,MT基于MBIST控制器,只增加一个调试控制寄存器、一个调试数据寄存器、一个译码器和若干多路选择器等少量逻辑,可实现对任意存储器的任意地址的调试访问.

关键词： 片上存储器 调试访问技术 功能验证

作者: 汪波 盖新貌

作者单位: 中国人民解放军95899部队 北京100085

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 424-428

在线出版日期: 2013-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）