基于SEM和XRD的MOV在电涌冲击下的破坏机理研究
使用扫描电镜(SEM)结合材料成分分析X射线衍射仪(XRD)研究了氧化锌压敏电阻(MOV)在高电压冲击过程中伴随的物质变化,从微观结构及组分角度分析MOV在电涌冲击下的破坏机理.研究表明:在8/20μs波形冲击破坏后期,MOV中的主要成分开始发生变化,Zn0晶体大量减少,Zn(0H)2晶体开始大量出现;在10/350μs波形冲击破坏过程中,大量的热量会造成MOV中Bi+的逐渐挥发,从而导致MOV内部离子迁移不均匀;8/20μs波形冲击下破裂损坏的MOV内部微观结构并不一定发生很大的变化;老化破坏的MOV内部晶胞界面存在着明显的挤压破坏;10/350μs波形冲击下穿孔破坏的MOV不同部位内部晶胞结构受破坏程度差异很大.
氧化锌压敏电阻 电涌冲击 破坏机理 扫描电镜 X射线衍射仪
楼嘉懿 杨仲江
南京信息工程大学,中国气象局气溶胶与云降水重点开放实验室,南京210044;南京信息工程大学大气物理学院,南京210044
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2015-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）