CMOS与非晶硅探测器成像效果初探

摘要：

数字射线检测是当前射线检测的研究热点,其中探测器的发展是数字射线演进的核心.2种目前应用较广的探测器的结构原理、成像过程、成像质量、成像效果和应用领域.结果表明,虽然CMOS探测器的空间分辨率更高,但在实际应用中,由于噪声信号大、相对灵敏度低、受温度影响明显等原因,成像效果较非晶硅探测器差距明显.

关键词： CMOS探测器 非晶硅探测器 成像效果

作者: 彭明峰 周鹏飞 陈杰

作者单位: 上海航天精密机械研究所,上海201600

会议类型: 国内会议

会议名称: 2016年全国设备监测诊断与维护学术会议、第十五届全国设备故障诊断学术会议、第十七届全国设备监测与诊断学术会议、2016年全国设备诊断工程会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 64-66

在线出版日期: 2016-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）