以开尔文测试管控PTH铜厚的方法
本文介绍了一种用四线开尔文测试对PTH孔铜厚实现监测与管控的新方法,通过将PTH孔铜厚与阻值相关联而实现.从涵盖不同孔径(0.20mm及0.25mm)及铜厚(铜厚15um～40um)的标准校准板四线测试阻值出发,对照相应孔的铜厚切片测量数据整理出二者的关系矩阵.根据矩阵数据拟合出PTH铜厚与阻值的线性关系.则可以根据此关系计算出任何目标铜厚对应的阻值,用该阻值作为四线测试的判定阈值,以此达到管控铜厚的目的.通过一批验证实验证明该了方法确实有效可行.
印制电路板 金属化孔 铜厚 阻值 四线开尔文测试
唐耀 黄云钟 李瑛 王成立
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2016-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）