SOLT校准片的研制与参数提取技术的研究

摘要：

本文设计制作了用于在片测试系统校准的陶瓷衬底的SOLT校准片,并研究了5GHz～26.5GHz频段内测试结果与模型迭代逼近提取校准片参数的技术.片上负载的电阻及电感参量被提取出来,电阻分量约为45欧姆,需要进一步激光调阻、模型优化和软件修正以达到实用化的水平.

关键词： 在片测试系统 微波校准片 SOLT校准算法 参数提取

作者: 殷玉喆 沙长涛 王文娟 项道才 胡菊萍 王文峰 阚劲松

作者单位: 工业和信息化部电子四院,计量与检测中心,100176

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013年全国微波毫米波会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 1436-1438

在线出版日期: 2013-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）