利用会聚束电子衍射精确测量纳米析出相体积分数

摘要：

材料中纳米析出相的尺寸、数密度及其乘积体积分数是控制材料强化效果的重要微结构参数.本研究构建了一种易实现、便捷、高效、精准的在晶体材料体系中测量纳米析出相体积分数的实验方法.这种方法主要基于传统但是高度准确的会聚束电子衍射测量薄膜样品厚度的手段.而在薄膜表面附近,与表面相交的过短的析出相形成的衬度难以分辨,由此会给体积分数测量带来额外误差.本工作中提出了一个新公式来消除这一误差的影响，并通过3DAP得以验证其合理性。本工作中构建的方法适用于常规的透射电镜薄膜样品，只需现代常见的LaB6或者场发射电子枪透射电镜。通过对Al-Mg-Si-Cu中的针／半条／棒状纳米析出相的体积分数测定，证实了该方法的精确度可以达到土8％。这种方法得到的析出相数密度与通过3DAP得到的数密度相比，差别约为4.5‰说明由此而得到的析出相体积分数是高度准确可靠的。本工作同时还讨论了这种方法的适用范围。

关键词： 晶体材料 纳米析出相 体积分数 会聚束电子衍射

作者: 李凯 Hosni Idrissi 宋旼 杜勇 Dominique Schryvers

作者单位: 中南大学粉末冶金国家重点实验室,长沙410083;Electron Microscopy for Materials Science (EMAT), University of Antwerp, An Electron Microscopy for Materials Science (EMAT), University of Antwerp, Antwerp B-2020, Belgium 中南大学粉末冶金国家重点实验室,长沙410083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国相图学术会议暨相图与材料设计国际研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 77-77

在线出版日期: 2015-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）