Ti-X (X=Cr, Hf, Mo,Nb,V Zr)二元体系扩散系数的高通量测定

摘要：

本文通过制备Ti-TiAl-Cr-Hf-Mo-Nb-V-Zr扩散多元节,结合扫描电镜(SEM)与电子探针(EPMA)等分析检测技术,成功地获得了Ti-X (X=Cr, Hf, Mo,Nb,V,Zr)二元体系在1200℃、1100℃、1000℃、900℃和800℃的成分-距离曲线.根据获得的浓度曲线,利用一个融合了Boltzmann-Matano方法、Sauer-Freise方法、Hall方法、Wagner方法以及forward-simulation方法的MatLab程序来快速提取Ti-X二元体系的互扩散系数及杂质扩散系数.通过将本文获得的扩散系数与文献中报道的数据进行比较,结果表明forward-simulation方法在提取互扩散系数及杂质扩散系数方面具有很好的可靠性.

关键词： 钛合金 扩散多元节 互扩散系数 杂质扩散系数

作者: 曾燚 朱礼龙 蔡格梅 金展鹏 黄继武

作者单位: 中南大学材料科学与工程学院 中南大学材料科学与工程学院;中南大学粉末冶金国家重点实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国相图学术会议暨相图与材料设计国际研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 410-410

在线出版日期: 2015-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）