超声阵列矢量全聚焦裂纹识别及影响参数研究
针对工业结构中裂纹缺陷的定位和方向识别问题,发展了一种基于超声阵列技术的矢量全聚焦成像方法.在修正的全聚焦成像基础上,提出了一种利用子阵列在聚焦点处矢量方向判断缺陷方向的方法,并将其应用于不同角度裂纹的方向识别.对单裂纹CIVA仿真模型进行了全矩阵数据采集和矢量全聚焦成像,研究发现,子阵列检测参数对裂纹方向识别具有不同程度的影响.因此,提出了子阵列检测参数的最优组合,可同时应用于多裂纹试块的缺陷定位和方向识别.
工业结构 裂纹缺陷 超声阵列 矢量全聚焦 子阵列
焦敬品 常予 孙欣蓉 何存富 吴斌
北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124
国内会议
厦门
中文
72-77
2015-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）