一种相控阵天线性能的验证方法

摘要：

大规模相控阵天线的综合问题是目前相控阵天线领域的难点.通过对小型阵列分析再综合大型阵列辐射模式是一种有效的评估方法.通过选取合适的小面阵规模并对其有源驻波、方向图等指标做出相应分析,有助于快速便捷的得出大型阵列辐射模式.

关键词： 相控阵天线 参数评估 有源驻波 方向图

作者: 武伟 韩国栋

作者单位: 中国电子科技集团公司第54研究所,河北石家庄050081 中国电子科技集团公司第54研究所,河北石家庄050081;中国电子科技集团公司第54研究所博士后工作站,河北石家庄050081

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013年全国微波毫米波会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 561-564

在线出版日期: 2013-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）