阵元间互耦对比相法测向性能的影响与分析
阵元间的互耦效应会影响天线阵列的电参数和方向性,从而影响到系统的测向性能.为了分析互耦对导引头系统比相法测向造成的影响,针对系统测向天线的模型,首先通过有限元法仿真分析得到测向阵列天线的阻抗矩阵,并通过线性阻抗网络计算出测向单元天线上的分布电流,从而得到天线的接收特性,其次由天线的接收特性分析出测向天线的相位差变化,最后由天线相位差的变化分析出互耦对系统比相法测向造成的影响.本文在最后给出了数值仿真结果,分析了互耦对比相法测向性能存在影响.
阵列天线 互耦效应 阻抗矩阵 比相法测向性能
胡凌云 冯恩信 张亦希
西安交通大学电子与信息工程学院,西安710049
国内会议
重庆
中文
112-115
2013-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）