微束面扫描分析对比
原位微区微束分析技术提供了固体物质的元素及同位素组成的空间分布信息,本文拟就地球科学中常用的三种微束(电子探针EMPA、激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱LA ICP-MS和X荧光光谱XRF)面扫描分析技术进行对比研究.结果表明对于复杂的地质样品而言,面扫描方法能够提供重要的成因和成分信息。根据对图像分辨率和数据检测限的要求,在考虑成本,时间及操作人员要求的前提下,选择合适的分析方法将有助于更好的解决实际问题。
地质勘探 微束面扫描分析 电子探针 激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱 X荧光光谱
张德贤 鲁安怀 谷湘平
中南大学 地球科学与信息物理学院,有色金属成矿预测与地质环境监测教育部重点实验室,长沙,410083
国内会议
长沙
中文
1120-1120
2015-12-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)