一种新的SRAM型胚胎电子细胞SEU自检结构
SRAM型胚胎电子细胞在辐射空间容易受到单粒子翻转(SEU,Single Event Upset)影响,由于缺乏有效的自检手段,严重制约了胚胎电子阵列在深空、强电磁等辐射环境中的应用.本文基于经典胚胎电子细胞结构,在配置存储模块和逻辑功能模块中分别采用延迟比较、双模比较等自检方法,设计了一种新型的具有自检能力的胚胎电子细胞,可以实时有效的检测配置存储模块和逻辑功能模块发生的一位和多位SEU,并且通过列移除的自修复机制,实现系统故障的实时自修复并保持系统正常工作.以4bit进位加法器为例,通过仿真实验,验证了胚胎电子细胞的自检能力和电子细胞阵列的故障自修复能力.
胚胎电子细胞 单粒子翻转 故障自检 辐射环境
李丹阳 蔡金燕 朱赛 孟亚峰
军械工程学院电子与光学工程系,石家庄,050003
国内会议
石家庄
中文
442-449
2015-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）