金属腔体不同耦合途径对腔内电磁耦合的影响分析

摘要：

为研究金属腔体不同耦合途径对腔体内部电磁耦合的影响,基于时域有限积分方法建立了电磁波辐射条件下金属腔体不同耦合途径计算模型,引入了不同耦合途径对比系数评价指标,分析了孔缝、贯通导线两种耦合途径对腔内电磁耦合的影响.为验证数值计算结果的正确性,采用GTEM室、矢量网络分析仪搭建了一种新的金属腔体不同耦合途径试验平台.研究表明:该试验方法准确性好且效率高;腔体内部电磁耦合受孔缝、贯通导线共同作用,开孔腔体加载短贯通导线时腔内耦合主要受腔体谐振影响,加载长贯通导线条件下腔内耦合还受到贯通导线自身谐振影响;低频时贯通导线为主要耦合途径;高频时,若开孔尺寸远大于贯通孔尺寸,腔体谐振频率附近,贯通导线为主要耦合途径,贯通导线自身谐振频率附近,贯通导线为主要耦合途径,否则孔缝为主要耦合途径.

关键词： 电子设备 金属腔体 电磁耦合 孔缝模式 贯通导线

作者: 李新峰 魏光辉 潘晓东 范丽思

作者单位: 军械工程学院 静电与电磁防护研究所,石家庄 050003

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国物理学会第二十届全国静电学术会议

会议地点: 石家庄

会议语种:中文

页码: 553-558

在线出版日期: 2015-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）