反冲质子法D-T中子源能谱测量的反演算法研究
提出了一种采用聚乙烯膜反冲质子法实现D-T中子源快中子能谱测量的方法.研究了最小二乘法和迭代法中子能谱反演理论,利用MCNP程序模拟了不同能量的单能中子在聚乙烯膜上0°方向出射的反冲质子能谱,得到了中子能谱反演所需的响应函数R.设定了一个入射中子能谱,采用MCNP程序模拟了聚乙烯膜上0°方向出射的反冲质子能谱.根据响应矩阵R和反冲质子能谱数据,分别利用最小二乘法和迭代法,反演得到中子能谱,并与假定入射中子能谱进行比较.对比结果显示:迭代法得到的反演得到的中子能谱与给定入射中子能谱符合较好,能适用于聚乙烯膜反冲质子法D-T中子源快中子能谱测量的解谱;最小二乘法得到的反演得到的中子能谱出现明显的起伏以及负数,不适用于求解中子能谱.
中子 能谱测量 最小二乘法 迭代法 反演机理
王洁 卢小龙 王俊润 冉建玲 兰长林 姚泽恩
兰州大学核科学与技术学院,兰州 730000 兰州大学核科学与技术学院,兰州 730000;兰州大学教育部中子应用技术工程研究中心,兰州 730000
国内会议
山东曲阜
中文
1-12
2015-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）