斜测电离图描迹和参数的自动提取
本文提出了一种能同时获取斜测电离图描迹和参数的方法,提取的参数来自电离图F2层和Es层,如最大可用频率,临界频率,虚高等.该方法采用QP模型描述电离层F2层电子浓度分布.利用正割定理、Martyn等效虚高定理、图像处理技术和电离图的回波特征确定部分电离层状态参数的最终值,和部分参数的初始值及搜索空间.然后利用最小群时延和残差分析提取Es层描迹.最后,使用混合遗传算法从搜索空间范围内找出一组最优参数,使合成的斜测电离图F2层描迹与真实描迹吻合得最好.为了验证自动提取方法的有效性,对120张斜测电离图进行了自动提取,将得到的结果与斜测电离图的人工提取结果进行比较.结果显示,该方法能够较准确地提取斜测电离图描迹和参数.
斜测电离图 描迹提取 参数提取 混合遗传算法
宋欢 胡耀垓 赵正予 姜春华
武汉大学电子信息学院 武汉 430072
国内会议
北京
中文
224-229
2015-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）