纯铜单晶、双晶和多晶的内耗温度谱

摘要：

本实验利用Bridgman方法生长出三个”001”转轴不同取向差的纯铜双晶,在多功能内耗仪上采用强迫振动方法,从室温到0.8TM范围内对比测量了纯铜单晶、双晶和多晶试样的内耗温度谱.结果表明,真正的纯铜单晶中没有内耗峰出现.在升降温测量过程中,单、双晶试样棱角处非常容易生成新的小晶粒,从而在内耗曲线上产生微弱的内耗峰.这进一步证明了多晶中出现的内耗峰是大量不同类型晶界内耗峰的叠加.小角度晶界双晶和大角度晶界双晶的弛豫参量存在明显差别,这种差别是晶界微观结构的差异引起的,但其内耗峰的基本机制都可归因于晶界原子的扩散.

关键词： 纯铜 晶体结构 内耗温度谱

作者: 蒋卫斌 孔庆平 王先平 方前锋

作者单位: 中科院合肥物质科学研究院 固体物理研究所 合肥 230031

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国固体内耗与力学谱及其应用学术会议

会议地点: 陕西延安

会议语种:中文

页码: 13-15

在线出版日期: 2015-08-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）