贝叶斯可靠性序贯验证试验方法

摘要：

本文讨论了Weibull分布下的贝叶斯可靠性序贯验证试验方法.并以某光电仪器为例,制定了以平均寿命为指标的序贯验证试验方案.经与经典方法制定的方案比较表明,该方法可节省试验时间,降低试验成本.

关键词： Weibull分布 可靠性验证 序贯抽样 贝叶斯

作者: 周桃庚 沙定国

作者单位: 北京理工大学光电工程系(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第三届青年学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 373-374

在线出版日期: 2001-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）