处理器鉴定检验流程分析及探讨
现有的电路质量评价的规范和标准大多数是在20世纪90年代到21世纪初制定的,面对当前工艺的处理器,如果只沿用原有的标准,其潜在的一些质量问题无法暴露,本文主要对当前生产工艺下处理器的失效机理进行了分析,对现有的集成电路鉴定检验流程及方法进行了简单介绍分析,并根据当前处理器的现状提出完善处理器电性能测试项目、稳态寿命试验方法、焊接到PCB板上后的鉴定检验项目方法的建议予以探讨.
处理器 集成电路 鉴定检验流程 电性能测试 稳态寿命
曲芳 高峰 谢翰威
江南计算技术研究所
国内会议
西安
中文
45-50
2016-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）