Formal验证在覆盖率收敛中的应用

摘要：

在SOC芯片的开发中,功能覆盖率与代码覆盖率是检查验证完备性的标准.在大规模的模拟验证之后剩余的未覆盖点,如果继续使用伪随机环境进行验证往往步履维艰.随着Formal验证技术的逐渐成熟,采用Formal验证的思想和工具找到未覆盖点中的不可达点,对加速芯片验证后期的覆盖率收敛有着事半功倍的效果.

关键词： 片上系统 芯片开发 覆盖率收敛 形式验证

作者: 李彦哲 张晓冬 濮晨

作者单位: 上海高性能集成电路设计中心,上海市浦东新区毕升路399号 201204 上海高性能集成电路设计中心,上海市浦东新区毕开路399号 201204 上海高性能集成电路设计中心,上海市浦东新区毕升路399号 201203

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二十届计算机工程与工艺年会暨第六届微处理器技术论坛

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 428-433

在线出版日期: 2016-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）