基于V93000的非确定性输出电路测试技术
随着集成电路的发展,电路的输出状态也越来越复杂,电路中出现非确定性输出的情况也越来越多,导致常规按节拍对输出进行比较测试的方法无法满足其测试要求.为解决上述非确定性输出的情况,作者基于目前一种主流的V93000测试设备的基础上阐述了几种测试实现方法,并对各种方法实现的优缺点进行概括总结.match loop的方法需要依靠V93000仪器板卡的后台CPU去处理，执行时需要一定的切换时间，在一个测试矢量中多次使用时容易导致结果不稳定，且在使用时有较大的限制，这在上面的测试方法说明中已有所介绍。在很多ATE设备中都具备Match loop的测试模式，但实现的效果差别较大。脉冲序列匹配的方法利用的是V93000仪器板的FPGA硬件资源，不需要相应的切换时间，相比match loop方法，应用场合更广泛，但这种方法依然存在限制，它适合于信号有效数据和空闲数据以固定长度的数据包方式传输或者以规则有共性的方式传输的电路，且相位飘移的实现方法与V93000硬件的测试速率等因素相关，当实际的测试电路或者V93000不能够满足以上要求，该方法便无法实现。记录数据后比较的方法对设备没有要求，但因测试过程中要记录数据，因此该方法受限于测试设备数据记录的容量及记录的速度，如记录量较大容易导致测试时间加长且数据无法完整记录的问题，且该方法需要编制专门的软件工具对数据进行处理，使用起来较为麻烦。
集成电路 非确定性输出 循环匹配 脉冲序列匹配 相位漂移
谢翰威 曲芳
江南计算技术研究所
国内会议
西安
中文
448-452
2016-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）