冷接子回波损耗测试方法分析与改进

摘要：

分析了目前业界关于冷接子回波损耗的测试方法,对存在问题提出了探讨.建立了一种冷接子回波损耗测试的改进模型,并通过理论分析、公式推导和实验数据进行了验证.测试数据和结果表明,通过该简易、创新的模型能避免测试系统中其他连接器件的干扰,准确、有效地完成冷接子产品本身的回波损耗指标测试。

关键词： 通信光纤 冷接子 回波损耗 指标测试

作者: 刘健 洪眉

作者单位: 中国电信股份有限公司广东研究院 广州510630;中国电信股份有限公司广东分公司艾特实验室 广州510630 中国电信集团公司 北京100032

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国通信学会信息通信网络技术委员会2013年年会

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 222-225

在线出版日期: 2013-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）