不同ICP-OES测定岩石矿物中Sn和W的干扰研究
矿物岩石试样中低含量Sn和W长期使用分光光度法测定,但此方法操作繁琐,效率低、耗时长,使用有毒的有机试剂显色,污染环境.本实验通过不同型号的ICP-OES对比研究，发现检测系统的差异(CCD和SCD)直接导致Mg对矿石中Sn产生截然不同的严重干扰。通过K、Na、Ca、Mg、Mn、Fe、Ti和A1对Sn和W测定的干扰研究，建立ICP-OES同时测定Sn和W的合理方法，结果满足实际生产的要求。不同的ICP-OES，使用SCD或CCD检测器系统，在某些波段谱线区间的基体(谱线，化学，物理)干扰不尽相同，而且谱线强度也不相同。在分析自然状态下存在的矿物(岩石)试样时务必慎重选择元素的分析谱线，否测易产生错误结果。对Sn的测定，用SCD检测器的Optima8300ICP-OES在Mg/Sn≥25时不宜选用189.927nm分析线，可根据实际情况选用242.170nm，但该谱线信号强度较低，适用于Sn含量较高的测定。Optima8000ICP-OES的CCD检测器选择189.927nm分析线可在较大范围内准确测定Sn的含量。W的测定在不同的检测器上均可选用最灵敏线207.912nm，其他推荐的谱线都分别有Fe和Ti等的干扰，需慎重选择。
岩石矿物 锡元素 钨元素 测定方法
黄晓纯 李海萍 张汉萍
广东省地质实验测试中心,广东广州510080
国内会议
武汉
中文
117-119
2014-09-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）