国产宇航用SRAM型FPGA同步开关噪声的应用验证

摘要：

同步开关噪声对具有上百个输入/输出端口的高性能FPGA系统具有很大的影响,是深亚微米设计所必须考虑的主要问题之一.本文在总结FPGA同步开关噪声相关研究的基础上,分析了FPGA器件的同步开关噪声机理,并对国产30万门SRAM型FPGA器件的同步开关噪声展开了验证.

关键词： 航天器件 现场可编程门列阵 同步开关噪声 形成机理

作者: 陈少磊 王文炎 江理东

作者单位: 中国空间技术研究院 北京市朝阳区民族园路5号

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国宇航学会·中国空间法学会2012年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 461-464

在线出版日期: 2012-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）