分形相关法位移测量的研究

摘要：

从分形理论出发提出了分形维数相关测量位移的新方法，测试结果显示，其测试精度至少可达0.06至0.04个像素。

关键词： 分形 位移测量 分形相关法 数字散斑

作者: 侯振德 秦玉文

作者单位: 天津大学力学系(天津)

会议类型: 国内会议

会议名称: 力学2000学术大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 355～356

在线出版日期: 2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）