磁性层顶底埋深的功率谱计算方法及影响因素
确定磁性异常体的顶底界面的埋深是磁力勘探解释的一个重要组成部分，目前在确定磁异常体的产状和埋深方面使用的方法主要有特征点法、任意点解析法、切线法、积分法、向量法、空间磁场法和功率谱法等方法。功率谱法是计算磁性层顶底界面埋深的常用方法之一,但是,在应用过程中受到一些因素的影响,将会对解释结果产生影响.本文利用磁异常功率谱对二度磁性体的上下底界面深度进行计算,通过对其高阶导数的功率谱计算埋深的近似公式的分析,探讨了功率谱计算埋深的影响因素.通过验证，可以肯定功率谱具有一定的优越性，具有实用价值。但是磁性体定量解释是一个复杂的问题，且磁异常功率谱在使用过程中人为选择的频谱和窗口有较大差异，磁异常的参量不同对功率谱的应用也会有一定的制约，需要在以后的研究中深入分析。
二度磁性体 界面深度 磁异常功率谱 高阶导数
杨强 王有学 王海燕 王晓龙
桂林理工大学地球科学学院,广西桂林 541004 桂林理工大学地球科学学院,广西桂林 541004;广西地质工程中心重点实验室,广西桂林 541004
国内会议
第四届华南青年地学学术研讨会暨广西地质学会第八届希望之星学术研讨会
桂林
中文
235-239
2012-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）