通过S参数测量平衡RFID标签天线阻抗的新方法

摘要：

将一种通过S参数测量平衡天线阻抗的新方法应用于RFID标签天线阻抗的测试.该方法把平衡天线看成一种双端口网络,通过测量S参数,可计算出天线的阻抗.本文仿真了一种UHF频段RFID标签天线,并用新方法对天线的阻抗进行了测试,实验表明,该方法得到的结果与仿真结果基本符合,说明本方法是可行的.

关键词： 射频识别标签天线 阻抗测量 双端口网络 S参数

作者: 邓力 李书芳 陈坤鹏

作者单位: 北京邮电大学电信工程学院,北京100876

会议类型: 国内会议

会议名称: 第22届全国电磁兼容学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 1-6

在线出版日期: 2012-04-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）