易损性上限机制及应用

摘要：

本文分析了易损性上限形成的电生理机制，大多数ICD置入患者采用ULV替代DFT测试时，不需要诱发VF就可以获得临床上比较可靠的除颤能量安全窗，而且ULV测试时所发放的电击能量较低，对心肌组织产生的损害较小。因此，ICD置入时，ULV作为DFT测试的一种可替代方法，具有较高的安全性和指导价值，但仍需进一步优化ULV测试。

关键词： 心室颤动 植入型心律转复除颤器 易损性上限 除颤阈值

作者: 吴立群 周建 金奇

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年中国心电学论坛

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 192-196

在线出版日期: 2012-06-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）