高速多端口寄存器文件的可测性设计

摘要：

本文提出了一种寄存器文件的可测性设计技术，该技术通过采用全扫描设计方法来增加寄存器文件的可测试性，从而实现寄存器文件可观察性、可控制性等可测试性设计目标。本文通过FT-CX中具有22个端口(13读/9写)的寄存器文件的可测性设计来阐述这一技术，FT-CX采用65nm CMOS工艺，增加可测试性设计后的寄存器文件的版图面积为266×302μm2，最差条件下平均功耗为21mW、工作频率可以达到700MHz。

关键词： 寄存器文件 可测试设计 总体结构 数据锁存 定向通路

作者: 冯国柱 陈吉华 宋芳芳 张子杰

作者单位: 国防科技大学计算机学院 长沙410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 264-268

在线出版日期: 2011-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）