曙光5000交换芯片的故障覆盖率分析与改善
随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路测试的地位正变得日益显著,成为贯穿于集成电路设计、制造、生产中保证芯片质量的重要环节.而故障覆盖率的高低直接决定着测试质量的好坏.本文结合曙光5000交换芯片,介绍了几种常用的提高覆盖率的方法,包括解决内部复位问题、屏蔽阴影逻辑、增加控制点等，并依据丢失覆盖率的分析结果,采取了针对性的措施进一步提高了覆盖率.
交换芯片 故障覆盖率 内部复位 阴影逻辑 插入控制点
杨佳 刘力轲 游定山 元国军 沈华
中国科学院计算技术研究所 北京100190
国内会议
成都
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341-346
2011-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）