一种面向多核处理器I/O系统软错误容错方法

摘要：

集成电路制造工艺的飞速发展，使得集成电路的特征尺寸不断减少和集成度不断提高，造成集成电路对工作环境的影响越来越敏感，发生软错误的几率不断增加，对可靠性造成重要影响。随着微处理器进入了多核时代，丰富的片上资源给软错误加固带来了很好的机遇，本文针对多核处理器中I/O系统软错误，提出了一种基于多核处理器的软件scrub方法对软错误进行加固。测试结果表明，提出的软错误容错方法可以大大提高I/O系统的可靠性.

关键词： 多核处理器 I/O系统 容错设计 软错误加固 运行可靠性

作者: 郭御风 郭诵忻 龚锐 邓宇 张明

作者单位: 国防科技大学计算机学院 长沙410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 116-120

在线出版日期: 2011-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）