VXI数模混合集成电路测试系统

摘要：

该文论述基于VXI总线的ATE数据混合集成电路测试系统。介绍了集成电路VXIbus测试系统的软硬件设计。详细描述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。

关键词： VXI总线 功能测试 参数测试 半导体集成电路

作者: 赵振峰

作者单位: 北京自动测试技术研究所冯建科

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 202～205

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）