VXI总统集成电路混合信号测试系统

摘要：

该文介绍VXI 总线仪器与大规模数字集成电路测试分系统共同构成的混合信号测试系统，用于大规模数字集成电路、A/D、D/A及多种运算放大器电路的测试。针对系统构成中的问题及误差产生原因进行了分析。

关键词： VXI总线 大规模集成电路 测试系统 混合信号

作者: 李瑞林

作者单位: G B Tech公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 206～209

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）