光谱法测定银覆盖层厚度

摘要：

采用X荧光能量色散光谱仪、原子吸收光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪对银覆盖层的厚度检测进行研究,结果表明,用(19:1)硫硝混酸溶解银覆盖层速度快,而且铜基体溶解相对最少.用原子吸收光谱仪和电感耦合等离子体发射光谱仪测定溶液中的银含量,从而得到银覆盖层的厚度.

关键词： 镀银饰品 银覆盖层 光谱仪 厚度测定

作者: 李武军 何涛 李玉鹍 李素青 孙梦寅 王振

作者单位: 国家首饰质量监督检验中心,北京100101 北京市食品安全监控中心,北京100041

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011中国珠宝首饰学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 316-319

在线出版日期: 2011-11-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）