HIRF辐射敏感度测试方法浅述

摘要：

文中简单介绍了高强辐射场辐射敏感度测试的两种主要方法,即暗室法和混响室法.暗室法测试是在一个均匀面上,被测件的六个面分别与均匀面重合来进行测试;混响室法测试是在一个均匀立体区域内,通过搅拌的方式产生空间、极化方向和入射方向统计均匀的电磁场来完成电磁辐射测试.这两种测试方法的测试机理是不一样的,各有优缺点,可以依据实际需求进行选择.

关键词： 辐射敏感度 暗室法 混响室

作者: 刘廷军 赵刚 罗雄

作者单位: 中国工程物理研究院应用电子学研究所 四川绵阳621900;中国工程物理研究院复杂电磁环境科学与技术重点实验室 四川绵阳621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会曙光分会第十七届学术年会暨中物院第十届电子技术青年学术交流会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 409-413

在线出版日期: 2014-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）