面向晶体管级广义门电路的PTM可靠性计算方法
不精确的广义门电路可靠性映射到门级或高层应用时误差容易因规模效应等而被过度放大导致结果不可靠.本文选择了在门级电路可靠性精确评估中得到有效验证的PTM模型用以精确计算晶体管级广义门电路的可靠性;分析了晶体管级广义门电路结构的逻辑抽象并转换成了功能一致的门级电路结构的逻辑抽象形式;提取了电路各组成单元的故障点及主要故障模式,并构建了与之相对应的面向故障的概率转移矩阵;依据各组成单元间的串并联特点,在有考虑输入信号故障的情况下,通过门级PTM方法的运算法则计算得到了晶体管级广义门电路的可靠性.在典型的CMOS广义门电路上的实验结果验证了本文所提方法的有效性,还分析了广义门电路的可靠性与其各主要类型故障之间的关系,并获得了一些有意义结果.
晶体管级 广义门电路 可靠性评估 故障模式
肖杰 江建慧 梁家荣
浙江工业大学计算机科学与技术学院 同济大学软件学院 广西大学计算机与电子信息学院
国内会议
武汉
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2014-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）