一种面向应用的FPGA组合电路测试生成算法

摘要：

面向应用的FPGA测试方法仅针对影响FPGA特定用户功能电路正常运行的故障进行测试,由于FPGA采用LUT元件为基本单元的电路实现方式与ASIC电路存在一定差异,因此无法直接应用传统ATPG工具对其中的用户功能电路进行测试生成.本文将故障集设定为LUT内部故障及互连线故障,在传统门级ATPG算法的基础上进行有针对性的改进,提出了在一种可以应用于基于LUT元件实现的组合逻辑电路的测试生成算法.

关键词： 可编程门阵列 组合逻辑电路 自动测试生成算法 故障集

作者: 张双悦 王红 杨士元 苗巍

作者单位: 清华大学自动化系,北京100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国测试学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 149-155

在线出版日期: 2014-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）