代表扫描-一种低功耗可测试性设计结构
传统扫描链将所有扫描单元串联,测试数据的移位路径较长,导致测试移位功耗较大.首次提出代表扫描结构,它将传统扫描链或子链中的触发器改造成环形移位寄存器,为每个环形移位寄存器遴选一个代表触发器,并将这些代表触发器串联,构成具有若干局部循环的代表扫描结构.本文首次提出代表扫描结构，该结构仅选择部分代表触发器串联成代表扫描链作为测试数据的移位路径，大大减少了移位功耗，该结构的不仅具有较小的硬件代价，获得较小的功耗，而且是一种通用的扫描结构，理论和实验结果均表明代表扫描结构是一种非常有效的低端口、低功耗的可测试设计结构。
数字集成电路 可测试性 设计理念 扫描结构 触发器
张玲 王伟征 梅军进 缪贤浩
湖北理工学院,计算机学院,黄石中国435003 长沙理工大学计算机与通信工程学院 湖南长沙410004
国内会议
武汉
中文
241-246
2014-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）