基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法
为了减少集成电路测试数据和测试时间,提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法,采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,提高了相容概率,若扫描切片与参考切片相容,只需要很少的几位编码就可以表示这个扫描切片,并且可以并行载入多扫描链;若不相容,参考切片被该扫描切片替换,提出一种最长相容策略,用来处理扫描切片与参考切片同时满足多种相容关系时的选取问题,根据Huffman编码原理确定不同相容情况的编码码字,可以进一步提高测试数据的压缩率,实验结果表明所提方法的平均测试数据压缩率达到了69.13％.
集成电路 多扫描链测试 数据压缩 镜像对称 参考切片 扫描切片 相容概率
刘杰镗 邝继顺 张亮
湖南大学信息科学与工程学院 长沙410082
国内会议
武汉
中文
367-374
2014-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）